| 发布日期：2023-06-28 浏览：1198次 |
实验实施
在实验中，利用NIRQuest近红外光谱仪对5种镀膜玻璃样品进行了100μm狭缝和1200-2100nm波段的光谱分析。测试系统由大功率卤钨灯、400μm反射探头和反射/透射光学平台(固定式)组成。以镜面反射率标准(85-95%，800-2500nm)作为参考。适用于Windows、Mac OS和Linux的光谱套件应用程序和Java光谱平台。
玻璃样品的未涂覆表面被降低到样品架中，以确保由探针测量的涂覆表面的反射率。借助光学平台，探头测量90°处的镜面反射，当入射角等于反射角时，镜面反射随着表面光滑度的提高而增加。测量中不需要暗室或黑箱，全部在日光灯下进行。高功率钨卤素灯(20瓦)提供连续光谱(360-2000纳米)。模拟实际生产条件，反射探头与每个样品表面的距离保持在7 cm左右。
公司的近红外光谱仪采用了高性能的InGaAs阵列探测器、紧凑型灯具设计、热电制冷配置和低噪音电子元件。NIRQuest256-2.1(即本实验中使用的256像素光谱仪RRB)适用于长波段探测(最高响应在1900nm左右)。采用高采集模式可以有效地提高系统的灵敏度，适用于低光度、低浓度的测量。此外，光谱仪的集成时间极短，最小为1MS，更适合大批量生产环境。
NIRQuest近红外光谱仪还具有外部硬件触发功能，允许用户在外部事件触发时采集数据，或者在数据采集后触发事件。该功能对于太阳模拟器自动过程或同步闪光过程中的数据采集尤为重要。
实验结果
测试中未进行研究任何一个平均和平滑图像处理，数据仍表现出一种很好的稳定性，因此只采集需要一套系统光谱。（见图2）样品的反射光谱分析表明在5片样品中反射率都随波长有同等幅度的增加。近红外光谱仪反射率峰值在2000 nm左右。并且可以反光最弱与最强的样品信息之间，反射率的差别在不同测试工作波长变化范围的两端发展相对来说较小，而在1700 nm附近存在差异具有显著。镀膜样品的反射信号强度在较短波段大约为25％，而在时间较长波段可达到80％，这些问题数值方法均为企业相对于镜面反射行为标准实验测得的相对反射率（镜面反射相关标准在近红外波段的反射率图谱接近平坦直线）。
